動態物件追蹤: 2017 AOI論壇與展覽
由 TIS Marketing 於 2017年11月3日 發表。
今年AOI論壇與展覽, The Imaging Source 兆鎂新 與念毅股份有限公司(MiM Tech)以及台灣燦銳科技有限公司(Hi Keen Tech)連袂合作，展出全方位的視覺解決方案:IC iVision。 The Imaging Source兆鎂新 " 33系列"DMK 33GP1300GigE相機搭配燦銳的低失真鏡頭以及念毅的 影像處理函式庫，於現場展示高動態物件追蹤及外觀缺陷檢測。
台灣國立交通大學身為電腦工程技術的指標性研究機構暨優秀大學，新竹校園的資訊大樓無疑是舉辦此展覽絕佳的選擇。每年， 自動光學檢測設備聯盟 主辦此展，為自動光學領域人士提供了交換資訊的機會。系統整合商、零件供應商、設備製造商、學術研究人士及學生可以透過此展覽獲取最新硬體與軟體產業的發展趨勢資訊。